Specifikace podle standardizovaných norem a certifikovaná kalibrace umožňují objektivní porovnání vlastností měřicích strojů a zajištění návaznosti měření. Společnost Werth Messtechnik byla akreditována pro kalibraci optických a multisenzorových souřadnicových měřicích strojů již v roce 2004 a v roce 2011 se stala prvním a do roku 2018 jediným akreditovaným pracovištěm svého druhu pro kalibraci souřadnicových měřicích strojů se senzory výpočetní tomografie.

První vydání normy ISO/TS 16949 (předchůdce IATF 16949) na konci 90. let 20. století vedlo k novým požadavkům na metrologickou návaznost používaných testovacích zařízení. Souřadnicové měřicí stroje jsou vhodné především pro kontrolu a kalibraci tohoto testovacího zařízení. Zejména v automobilovém průmyslu to vedlo k poptávce po akreditované kalibraci souřadnicových měřicích strojů. Použití kalibrovaných etalonů zaručuje návaznost na mezinárodní normy. V roce 2003 byla vydána směrnice DKD-R 4-3 Sheet 18.1 (DKD - Deutscher Kalibrierdienst) a následovaly první akreditace laboratoří pro dotykové souřadnicové měřicí stroje. V roce 2004 získala společnost Werth Messtechnik jako první německá laboratoř akreditaci DKD pro kalibraci optických a multisenzorových souřadnicových měřicích strojů. Postupy pro souřadnicové měřicí stroje s optickými sondami popsané ve VDI 2617 Sheet 6 byly vyvinuty za významné spolupráce společnosti Werth Messtechnik.
Laboratoř je od té doby neustále aktivní a uvedené postupy jsou dále rozvíjeny a doplňovány. V roce 2011 získala laboratoř Werth-DAkkS (DAkkS - německý akreditační orgán) jako první a do roku 2018 jediné zařízení svého druhu akreditaci pro kalibraci souřadnicových měřicích strojů se senzory počítačové tomografie podle VDI/VDE 2617 Sheet 13. V roce 2019 proběhla v rámci reakreditace transformace na aktuální verzi normy ISO 17025:2017.

Obrázek: Na základě definice metru jsou národní metrologické instituty nebo DAkkS-laboratoře kalibrovány různé etalony délky. Ty se používají ke kalibraci stroje. Samotný stroj je nyní referenčním etalonem, kterým mohou být měřeny dílce s návazností.