Vaše metrologie na klíč

Werth Chromatic Focus Line Senzor CFL

Vysoce přesný senzor na bázi projekce chromatické linie

Výhody:

  • Přesné a rychlé měření povrchů
  • Senzor CFL využívá lineární uspořádání mnoha chromatických senzorů k extrémně rychlému zachycení naměřených hodnot s až jedním milionem měřicích bodů za méně než tři sekundy. Princip chromatického měření zajišťuje nízké odchylky měření a vysoký stupeň nezávislosti na vlastnostech povrchu. Oblasti použití zahrnují difuzní, odrazové a transparentní obrobky.

Další výhody:

  • Přizpůsobení nejistoty měření a měřicího rozsahu příslušné aplikaci s různými objektivy
  • Díky velkému osovému měřicímu rozsahu často není nutné sledovat osy přístroje podle geometrie obrobku
  • Možnost rychlého vytvoření rastrového obrazu povrchu obrobku umožňuje vytvoření lokálních souřadnicových systémů pro další měření s jinými senzory
  • Volitelně lze měřit i tloušťku vrstev transparentních materiálů

Jak to funguje
Z vyhodnocovacího boxu a) se světlo ze širokopásmového zdroje světla b) promítá na obrobek (pozice 1), 2) nebo 3)) prostřednictvím vláknových vazeb c), lineárních optických vláken d) a zobrazovací optiky e). Intenzita odraženého světla je nejvyšší pro barvu odpovídající vzdálenosti od obrobku f). Ta se vyhodnocuje prostřednictvím spektrometru g) pro všechny měřicí body na lince současně.

Máte dotaz ?

Fotka kontaktu
Ing. Rostislav Kadlčík
Aplikační a prodejní specialista WERTH
Fotka kontaktu
Lenka Gajdůšková
Koordinátorka prodeje WERTH, 3D skenery, panoramatické kamery NCTECH

Poptávkový formulář

*
*
*
Captcha